Phi-scan with pions and muons - Analysis of TILECAL test beam data

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Amaral, P, Carvalho, J, Colaço, F, Gomes, A, Henriques, A, Maio, A, Onofre, A, Wolters, H
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/683541

Internet

http://cds.cern.ch/record/683541

Ejemplares similares