Optimising the Grouping of Wafers in SCT Readout Buffers using Simulated Annealing Methods

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Charlton, VA
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/685771

Internet

http://cds.cern.ch/record/685771

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