Temperature Dependence of Reverse Annealing in Bulk Damaged Silicon

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Beck, G, Gibson, M, Pritchard, T W, Robinson, D
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/685912

Internet

http://cds.cern.ch/record/685912

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