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Test beam analysis of the effect of highly ionizing particles on the CMS Silicon Strip Tracker
| Autor principal: | |
|---|---|
| Lenguaje: | eng |
| Publicado: |
2004
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2004.05.046 http://cds.cern.ch/record/797977 |
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