Radiation Damage Measurements on ALEPH Double-Sided Silicon Strip Test Structures

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Johnson, R, Rennels, R
Lenguaje:eng
Publicado: 1994
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/806021

Internet

http://cds.cern.ch/record/806021

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