Conference on Stress-induced Phenomena In Metallization

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Bravman, John, Ho, Paul S, Li, Che-Yu, Sanchez, John
Lenguaje:eng
Publicado: AIP 1996
Materias:
XX
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/866264

Internet

http://cds.cern.ch/record/866264

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