A beam scanner for the OMICRON experiment at CERN

Detalles Bibliográficos
Autor principal: van der Graaf, Hendrik
Lenguaje:eng
Publicado: 2018
Materias:
Detectors and Experimental Techniques
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2306228

Internet

http://cds.cern.ch/record/2306228

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