Wafer Tests of the Pixel Detectors for the Upgrade of the DELPHI Vertex Detector

Detalles Bibliográficos
Autores principales: de Boer, W, Hartmann, F, Kaiser, M, Knoblauch, D, K\"orpert, A, Leb, H, Maehlum, G, Meyer, S, Wielers, M
Lenguaje:eng
Publicado: 1996
Acceso en línea:http://cds.cern.ch/record/2630043

Internet

http://cds.cern.ch/record/2630043

Ejemplares similares