Expression of Concern: Electrical Study of Trapped Charges in Copper-Doped Zinc Oxide Films by Scanning Probe Microscopy for Nonvolatile Memory Applications

Detalles Bibliográficos
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Public Library of Science 2023
Materias:
Expression of Concern
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC10310016/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/37384720
http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0288213
Descripción
Sumario:

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