Full-thickness defect closure using the reopenable clip over-the-line method with omental patch

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nomura, Tatsuma, Sugimoto, Shinya, Fujimura, Yu, Ito, Keiichi, Katsumine, Yasuo, Uedo, Noriya
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Georg Thieme Verlag KG 2023
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC10442211/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/37604446
http://dx.doi.org/10.1055/a-2133-6266

Internet

https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC10442211/
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