Corrigendum: Dark-field X-ray microscopy for multiscale structural characterization

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Simons, H., King, A., Ludwig, W., Detlefs, C., Pantleon, W., Schmidt, S., Stöhr, F., Snigireva, I., Snigirev, A., Poulsen, H. F.
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: Nature Pub. Group 2015
Materias:
Corrigenda
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4366500/
https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25739984
http://dx.doi.org/10.1038/ncomms7612

Internet

https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4366500/
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