Direct Solids Analysis Using Sputter Initiated Resonance Ionization Spectroscopy (SIRIS)

Detalles Bibliográficos
Autores principales: Parks, J. E., Spaar, M. T., Moore, L. J., Fairbank, W. M., Hutchinson, J. M. R.
Formato: Online Artículo Texto
Lenguaje:English
Publicado: [Gaithersburg, MD] : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology 1988
Materias:
Article
Acceso en línea:https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5181929/
http://dx.doi.org/10.6028/jres.093.086

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